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透射电子显微镜

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设备简介

一、仪器名称
中文名称：透射电子显微镜
英文名称：Transmission Electron Microscope
二、型号：JEM-1400F
三、生产厂家：日本电子
四、仪器简介：
仪器由电子光学系统、真空系统、控制系统、底片成像系统、数字化成像系统等。可对样品的微区进行高衬度、高分辨成像。可以进行图像观察和微区的衍射晶体结构分析。
五、仪器主要特点及技术指标：
1．电子枪：预对中灯丝
2. 最大加速电压：120kV
3. 相机长度：10-250cm
4. 最小束斑尺寸：0.2μm以下（TEM模式）
5. 放大倍数：×10 – ×1,500,000
6. 图像观察窗：大荧光屏：直径160mm；小荧光屏：标准20mm
7. 双眼目镜：标准配置10，聚焦后无需改变放大倍数直接成像
8. 底插CCD相机
9. 分辨率：500万像素
10. 像素尺寸：18μm × 18μm
11. 视野范围：41mm × 41mm
12. 真空系统：分子泵系统，换样时间2分钟内
六、仪器主要功能及其用途：
1. 微纳米材料形貌表征
2. 选区电子衍射

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